產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
45MG測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的*超聲測厚儀。這款**特色的儀器與**Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集**解決方案于一機的**型儀器，可用于幾乎**測厚應用。
詳情介紹：
45MG測厚儀標準功能：
•與**Olympus雙晶探頭兼容，可對內部腐蝕的金屬的厚度進行測量
•*小值/*大值模式
•兩個報警模式
•差值模式
•時基B掃描
•縮減率
•增益調整（標準、高、低）
•密碼式儀器鎖定
45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領域中用途*廣泛的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常*的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中*大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
抵御惡劣環(huán)境的能力：
•堅固耐用，設計符合IP67標準。
•爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中**操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
•防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
•防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
•寬泛的操作溫度范圍
•可選的帶有支架的橡膠保護套
45MG測厚儀技術參數(shù)：
測量
雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的*延遲到*個回波之間的時間間
隔。
自動回波到回波•
（可選）
在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂
層的厚度。
穿透涂層測量•
（可選）
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度•
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭）
單晶探頭測量模式•
（可選）
模式1： 激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔
模式2： 延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔
（使用延遲塊式或水浸式探頭）
模式3： 在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相
鄰底面回波之間的時間間隔•
（使用延遲塊式或水浸式探頭）
厚度范圍 0.080 mm～635 mm，視材料、探頭、表面條件、溫
度和所選配置而定（要測量*全的范圍需要使用單晶
選項）
材料聲速范圍0.508 mm/μs～18.699 mm/μs
分辨率•
（可選擇）
低分辨率：0.1毫米
標準分辨率：0.01毫米
單晶選項：0.001毫米
探頭頻率范圍標準：2.25 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍–10 ℃～50 ℃
鍵盤密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密
封。設計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） 總體尺寸：91.1毫米 x 162毫米 x 41.1毫米
重量431克
電源3節(jié)AA電池/USB電源供應
電池工作時間３節(jié)AA堿性電池：20到21小時
3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標準設計符合EN15317標準。
顯示
彩色透反QVGA顯示液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）
輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡*大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡
內置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、**
及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結構6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構
報告 機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的*小值/*
大值、*小值回顧、文件比較及報警報告
45MG測厚儀標準配置
•• 45MG數(shù)字式超聲測厚儀
•• AA堿性電池
•• 2階試塊和耦合劑
•• USB線纜
•• 用戶手冊，存于CD盤上
•• 測量功能：*小值/*大值模式、兩個報警模
式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖
定功能
軟件選項
45MG-SE (U8147022)： 單晶選項，使用頻率范圍為
2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭。
45MG-HP (U8147023)： 單晶高穿透選項，使用頻率
范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭。
45MG-EETC (U8147021)： 回波到回波和穿透涂層
45MG-WF (U8147019)： 波形選項
45MG-DL (U8147020)： 內置數(shù)據(jù)記錄器，包含
GageView接口程序
選購附件
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD
存儲卡
45MG/RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護套
•與**Olympus雙晶探頭兼容，可對內部腐蝕的金屬的厚度進行測量
•*小值/*大值模式
•兩個報警模式
•差值模式
•時基B掃描
•縮減率
•增益調整（標準、高、低）
•密碼式儀器鎖定
45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領域中用途*廣泛的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常*的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中*大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
抵御惡劣環(huán)境的能力：
•堅固耐用，設計符合IP67標準。
•爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中**操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
•防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
•防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
•寬泛的操作溫度范圍
•可選的帶有支架的橡膠保護套
45MG測厚儀技術參數(shù)：
測量
雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的*延遲到*個回波之間的時間間
隔。
自動回波到回波•
（可選）
在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂
層的厚度。
穿透涂層測量•
（可選）
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度•
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭）
單晶探頭測量模式•
（可選）
模式1： 激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔
模式2： 延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔
（使用延遲塊式或水浸式探頭）
模式3： 在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相
鄰底面回波之間的時間間隔•
（使用延遲塊式或水浸式探頭）
厚度范圍 0.080 mm～635 mm，視材料、探頭、表面條件、溫
度和所選配置而定（要測量*全的范圍需要使用單晶
選項）
材料聲速范圍0.508 mm/μs～18.699 mm/μs
分辨率•
（可選擇）
低分辨率：0.1毫米
標準分辨率：0.01毫米
單晶選項：0.001毫米
探頭頻率范圍標準：2.25 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍–10 ℃～50 ℃
鍵盤密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密
封。設計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） 總體尺寸：91.1毫米 x 162毫米 x 41.1毫米
重量431克
電源3節(jié)AA電池/USB電源供應
電池工作時間３節(jié)AA堿性電池：20到21小時
3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標準設計符合EN15317標準。
顯示
彩色透反QVGA顯示液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）
輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡*大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡
內置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、**
及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結構6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構
報告 機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的*小值/*
大值、*小值回顧、文件比較及報警報告
45MG測厚儀標準配置
•• 45MG數(shù)字式超聲測厚儀
•• AA堿性電池
•• 2階試塊和耦合劑
•• USB線纜
•• 用戶手冊，存于CD盤上
•• 測量功能：*小值/*大值模式、兩個報警模
式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖
定功能
軟件選項
45MG-SE (U8147022)： 單晶選項，使用頻率范圍為
2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭。
45MG-HP (U8147023)： 單晶高穿透選項，使用頻率
范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭。
45MG-EETC (U8147021)： 回波到回波和穿透涂層
45MG-WF (U8147019)： 波形選項
45MG-DL (U8147020)： 內置數(shù)據(jù)記錄器，包含
GageView接口程序
選購附件
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD
存儲卡
45MG/RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護套